Толщина цинкового покрытия по методу Сендзимира обычно контролируется при помощи следующих методов:
Метод Масса-Область (ASTM A90/A90M): Толщина покрытия определяется делением массы оцинкованного покрытия на его площадь. Измерение массы производится взвешиванием образцов до и после нанесения покрытия.
Магнитный метод (ASTM E376): Толщина покрытия оценивается путем измерения магнитной проницаемости образца. Чем толще покрытие, тем ниже магнитная проницаемость.
Кулонометрический метод (ASTM B76): Электрохимический метод, в котором толщина покрытия определяется количественно путем электролитического растворения покрытия в растворе электролита и измерения количества проходящего через ячейку электрического тока.
Рентгеновская флуоресценция (XRF): Метод, использующий рентгеновское излучение для определения элементарного состава образца. Толщина покрытия определяется по интенсивности характеристического рентгеновского излучения, испускаемого цинком.
Микроскопическое исследование поперечного сечения: Метод, при котором измеряется толщина покрытия на металлографическом шлифе под микроскопом.
В соответствии с методом Сендзимира толщина цинкового покрытия обычно составляет от 10 до 20 мкм.
